新闻公告_恒温晶振|温补晶振|晶体振荡器|滤波器|时钟模块|OCXO|TCXO|Crystal oscillator|Crystal filter|timing module

[新闻公告]   端接50 Ω 测试仪器指标很好，但是连接真实 LNA时却变差：如何应对终端阻抗？

2026-11-12     DEI Blog_11.12.26

滤波器在 50Ω 标准测试环境下指标优异，接入真实 LNA 后性能恶化，核心原因是 LNA 输入为随频率、偏置、温度变化的复阻抗，偏离滤波器设计的理想 50Ω 端接条件。本文分析终端失配引发的通带漂移、波纹增大、插损抬升等问题，介绍实测前后级复阻抗的方法，给出匹配网络、隔离缓冲、阻抗定制等整改方案，DEI 可提供各类滤波器与频控器件，支持结合实际终端阻抗做链路评估和选型。
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[新闻公告]   滤波器在指定频点抑制 60 dB，整个带外都能达到吗？

2026-11-11     DEI Blog_11.11.25

滤波器 datasheet 中标注的单点 60dB 带外抑制，不能等同于全带外均可达到该指标，带外抑制随频率变化，晶体、SAW、LC、腔体等不同类型滤波器还容易出现寄生通带，造成高频抑制失效。本文解析单点抑制规格的局限、寄生响应产生机理，介绍宽频扫频的验证方法，并给出 RFQ 阶段的技术确认要点，同时说明 DEI 可提供多类滤波器及频控器件，支持抑制曲线与寄生通带评估选型。
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[新闻公告]   滤波器回波损耗很好，插损却很大：匹配好不代表损耗低

2026-11-10     DEI Blog_11.10.26

滤波器回波损耗优异不等于插入损耗低，S11 仅表征信号反射情况，无法反映器件内部功率耗散。文章依托 S 参数功率流公式，区分反射型、耗散型两类高插损故障，梳理元件 Q 值、介质损耗、接触电阻等耗散诱因，给出多维度测试定位方法与指标速查逻辑，并介绍 DEI 各类滤波器及频控器件选型支持，帮助工程师避开匹配误判，精准排查损耗问题。
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[新闻公告]   群时延波动会怎样影响数字调制？带通滤波器的波形验证

2026-11-9     DEI Blog_11.09.26

群时延波动会造成不同频率分量延迟不一致，引发码间干扰、星座图发散、EVM 劣化，对 QAM、OFDM 这类宽带高阶调制影响尤为明显。区分幅频波纹与群时延波动两类失真，结合信号和滤波器带宽的关系判断影响程度，可通过受控 SNR 下的 EVM 对比、眼图及星座图观测完成波形验证，在选型时优先把控信号带宽内的群时延指标，必要时借助数字均衡做补偿。
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