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[新闻公告]   SC 切与 AT 切晶体：频率稳定性对比

2026-7-3     DEI Blog_07.03.26

SC 切与 AT 切是晶振领域主流晶体切型，二者频率稳定性差距悬殊。SC 切具备应力补偿结构与更高零温漂拐点温度，拥有 ppb 级宽温稳定度和超低年老化率，抗温变、抗振动能力优异，可满足高端 OCXO、5G 通信、航空雷达等极致精度场景；AT 切温漂与长期频漂更大、环境抗性偏弱，凭借高性价比适配消费电子与普通工业低成本通用时钟场景。
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[新闻公告]   SC 切晶体及其较高 ESR：影响与核心价值

2026-7-2     DEI Blog_07.02.26

本文综合阐述 SC 切晶体高 ESR 特性的成因、电路影响与性能权衡。相较于 AT 切、BT 切晶体，SC 切因应力补偿结构具备更高 ESR，会对环路增益、起振速度与电路设计带来一定挑战，但这也是其极致性能的固有代价。凭借超低老化率、超高宽温稳定度、优异相位噪声与强抗环境应力能力，SC 切综合性能远超普通切型，是高端 OCXO、卫星导航、雷达与精密测控设备高精度授时的最优方案。
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[新闻公告]   什么是扩频调制？如何测量扩频调制？扩频调制有多重要

2026-7-1     DEI Blog_07.01.26

扩频调制是现代无线通信核心技术，通过将窄带信号扩展为宽带信号，实现抗干扰、高通信隐私与高效频谱共享。可通过频谱仪频域观测、示波器时域分析与信号解调完成参数测量，广泛应用于 CDMA 通信、蓝牙、无线遥控等场景，有效提升无线系统的稳定性、安全性与频谱利用效率。
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[新闻公告]   SC 切晶体较高的 ESR 如何影响相位噪声性能

2026-6-30     DEI Blog_06.30.26

SC 切晶体较高的 ESR 会带来热噪声升高、环路增益噪声及自热频扰，对相位噪声存在一定负面影响。但凭借更高 Q 值、优异的应力补偿结构与极低老化特性，SC 切可从根本上压制噪声劣化，结合低噪声电路优化后，整体相位噪声性能全面优于 AT 切，动态环境下频谱纯度更高、长期性能更稳定，是基站、雷达、卫星及精密仪器等低相噪高端应用的优选。
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DEI Blog_10.20.25 DEI Blog_03.03.25 DEI Blog_01.09.24 DEI Blog_01.05.26 DEI Blog_04.14.26 DEI Blog_12.08.24 DEI Blog_05.27.24 小尺寸、低成本、温补晶振、TCXO3225BM-40MHz-A DEI Blog_10.29.24 DEI Blog_02.18.24 DEI Blog_01.24.25 DEI Blog_06.26.26 消费电子 DEI Blog_10.07.24 DEI Blog_04.11.25 DEI Blog_03.25.25 表贴 DEI Blog_08.28.25 DEI Blog_08.05.24 低G灵敏度 DEI DEI Blog_08.18.25 DEI Blog_09.17.24 宽温度范围低功耗、定时模块、TM2525CV-LP DEI Blog_08.11.25 DEI Blog_03.20.24 DEI Blog_12.03.24 低功耗、快速预热、低相位噪声、恒温晶体振荡器、OCXO DEI Blog_03.12.26 DEI Blog_04.01.25 高稳定性