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[新闻公告]   PLL锁相环调试实战——突破时钟系统倍频核心难点

2026-5-19     DEI Blog_05.19.26

在芯片时钟系统 Bringup 中，PLL 锁相环调试是继晶振起振后的核心倍频环节，“低频晶振 + PLL 倍频” 也是当前获取高频时钟的主流方案。文章从 PLL 四大核心模块的工作原理入手，解析其从失锁到稳定锁定的完整过程，并围绕环路滤波器、VCO 调谐增益、分频比等关键参数，总结配置顺序、电源噪声、VCO 频率范围、参考时钟质量等常见故障与调试技巧，帮助工程师从原理层面精准定位并解决锁定失败、抖动过大等问题，高效完成时钟系统调试。
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[新闻公告]   晶振振荡异常排查指南——破解芯片Bringup首要瓶颈

2026-5-18     DEI Blog_05.18.26

晶振振荡异常是芯片 Bringup 调试中制约进程的首要瓶颈，常表现为系统无法启动、随机复位等故障，其核心与晶振压电效应、负阻补偿、负载电容匹配等关键因素相关。本文结合晶振振荡机制与工程实战经验，拆解振荡建立条件，梳理按故障概率排序的标准化排查流程，助力工程师快速定位并解决晶振振荡相关问题，保障芯片时钟系统稳定，提升 Bringup 调试效率。
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[新闻公告]   地面气象雷达测试平台的精密授时解决方案

2026-5-15     DEI Blog_05.15.26

地面气象雷达测试与校准需高精度精密授时保障，DOCXO3628AW 100MHz A V（双恒温晶振）与 OCXO3307 10MHz E V（恒温晶振）协同作用，凭借超高频率稳定度、低相位噪声及强环境适应性，分别提供高频超稳输出与可靠参考时基，实现测试平台的频率产生、系统同步与精密校准，保障雷达性能评估的准确性，助力精准气象监测与预报。
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[新闻公告]   压控振荡器（VCO）在锁相环（PLL）设计中的作用

2026-5-14     DEI Blog_05.14.26

压控振荡器（VCO）是锁相环（PLL）设计中不可或缺的关键器件，凭借频率可调、响应速度快、稳定性强、通用性广的核心优势，为 PLL 提供可调且稳定的输出信号，通过与鉴相器、环路滤波器协同完成锁相过程，实现输出信号与参考信号的同步。设计时需关注其压频特性、调谐范围等关键因素，基于 VCO 的 PLL 广泛应用于电信、雷达、数据通信等多个领域，构建高性能频率控制系统。
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DEI Blog_05.09.26 DEI Blog_05.20.24 DEI Blog_04.10.25 DEI Blog_01.15.26 DEI Blog_06.18.29 DEI Blog_01.16.25 DEI Blog_04.12.24 产品搜索 DEI Blog_04.29.29 DEI Blog_07.10.24 DEI Blog_03.11.26 DEI Blog_10.10.24 DEI Blog_07.23.26 DEI Blog_08.26.26 DEI Blog_10.08.24 DEI Blog_08.21.26 DEI Blog_08.12.25 DEI Blog_04.08.26 DEI Blog_07.14.26 DEI Blog_09.25.23 DEI Blog_01.31.24 DEI Blog_01.14.25 特殊定制频率、温补晶振、TCXO5300CL-10.23MHz-A 1400MHz-2650MHz Voltage Controlled Oscillator DEI Blog_02.14.25 高精度、音叉型、晶体单元、XTAL3080BM-TF-32.768KHz DEI Blog_11.28.24 DEI Blog_08.15.24 DEI Blog_02.15.24 DEI Blog_04.02.24 DEI Blog_11.27.24 DEI Blog_10.29.24